CasaXPS Computer Aided Surface Analysis for X-ray Photoelectron Spectroscopy

CasaXPSは、年間3000を超える頻度で、世界中の論文で引用され続けている、XPSスペクトル解析ソフトウェアです。その背景には、経験豊富な表面分析のXPSアナリストとの緊密なコラボレーション、表面分析研究者の目線で数々のツールの開発を重ね続け、今日さまざまな分野において数々の実績があります。X線光電子分光(XPS)、Auger電子分光 (AES) 、またToF-SIMSなどの表面分析業務に欠かせない、世界中から最も信頼され使われている解析ソフトウェアとして、これからも成長を続けていきます。

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 


CasaXPSスペクトル解析ソフトの特徴

       与えられたサンプルに対するピークモデルの適合性を分析する豊富なツール軍。

       論文や出版物等用に、CasaXPSで解析結果を高画像データ (600 DPI) で外部に出力します。

       光電子放出のピークのモデリングのための、バックグラウンド補正オプションや、ラインシェープの豊富な設定

       定性(サーベイ)高分解能分析(ナロースキャン分析)の定量化

       XPSの画像処理

       表面化学分析における国際標データ・フォーマット(ISO 14976 VAMAS file format) に変換するための多数のデーターコンバート・オプション
(
世界中の表面計測装置の最新のバージョンに対応)

       バッチ処理による、繰り返し作業の自動化

 

日本語の製品カタログ

CasaXPSの新機能の説明資料

価格表

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